Отчеты по практике на заказ

Прохождение практики на производственном предприятии, занимающемся изготовлением и проектированием РЭС. Основа его работы – это базовый пакет системы управления Nanonis. Начиная с обработки сигналов и преобразования AD/DA в процесс реального времени и графического интерфейса пользователя, базовый пакет представляет собой инфраструктуру, которая может быть адаптирована к любым потребностям и дополнена рядом дополнительных модулей. Все базовые процессы, такие как z-control, scan-control, сбор данных, атомарные манипуляции, литография и спектроскопия, включены, что позволяет легко управлять электронными STM и AFM-операциями

Используемая рассматриваемым в отчете по практике предприятием система Nanonis использует настолько сложные технологии цифровой фильтрации, передискретизации и сглаживания, чтобы обеспечить самое высокое разрешение. Система управления сканирующим зондовым микроскопом подобна кабине пилота, и пилот должен поддерживаться во всех своих маневрах при полете через наномир. Модуль управления сканированием является полностью интерактивным и динамичным. Можно масштабировать полученные данные, вставлять отсканированные данные в фоновый режим для справки и отображать разные каналы в нескольких окнах.

Так как сканирующий туннельный микроскоп является очень сложной самосборной системой, состоящей из многих систем откачек воздуха для приобретения глубокого вакуума, из-за которых возможность для проведения многих экспериментов за короткое время не возможна. Микроскоп состоит из многих камер, а именно: камера введения образца, камера очищения и напыления, камера исследования, то есть там, где непосредственно идет сканирование образца, и камера для переноса (для того, чтобы образец можно было исследовать в других лабораториях и другими методами в вакууме, что очень важно). Далеко не всегда отчеты по практике на заказ содержат такие данные, потому что студентам обычно не доверяют столь дорогостоящее оборудование.

Сканирование картинок поверхности исследуемого материала Si(111) 7x7 и кластеров индия на нем проводилось в программе, предназначенной для растровых (сканирующих) микроскопов Nanonis. В команде Modules выбираем Scan Control для настройки сканирования поверхностей образца. Правильно подбирая параметры центра картинки, размер (50нм*50нм) и каналы (Channels: Z(m) и Current (A)), а также скорость сканирования в окне Linear и Time/line можно перейти к приближению иглы к образцу. При нажатии кнопки пуск идет приближение иглы к поверхности образца.